XUV分光器 easyLIGHT XUV
easyLIGHT XUVは、これまでにない効率で広帯域スペクトル測定を実現します。スリットレス設計により、放射源を直接撮像するため、煩雑な入射スリットが不要です。30～250nmのスペクトル範囲は、高強度高調波（HHG）およびプラズマ診断における多くのアプリケーションを快適にカバーします。easyLIGHT XUVは垂直入射設計のため、斜入射分光計と比較して設置と調整が簡単です。
モジュール設計により、様々な実験形状や構成に対応します。easyLIGHTは、一体型スリットホルダーと閉ループ電動グレーティングポジショニングを備えています。
検出器オプションには、以下のものがあります。
- VUV CCD
検出器最高の分解能とダイナミックレンジ - MCP/CMOS検出器
最も広い波長範囲とゲート／増倍検出 - 光電子増倍管検出器
スキャニングアプリケーション向け
ご要望についてお気軽にお問い合わせください
特徴
- モノクロメーター/分光器として使用可能
- Noスリットデザインによる高効率分光
- 高効率なグレーティング
- 30-250nmの波長範囲で使用可能
- コンパクトなモジュラーデザイン
アプリケーション
- 分光分析
- 真空紫外研究
- レーザー誘起ブレークダウン分光法(LIBS)
- プラズマ源の特性評価
- 高次高調波発生
- アト秒科学
- シンクトロンビームラインの特性評価
- 自由電子レーザー
製品情報
| easyLIGHT XUV | |
|---|---|
| 方式 | 収差補正フラットフィールド分光計 |
| 波長範囲 | 30-250nm |
| 分散 | -2.0nm/mm |
| 分解能 | <0.1nm |
| グレーティングサイズ | 75mm |
| 偏差角 | 94° |
| 光源距離 | フレキシブル |
| ディテクター | CCD or MCP/CMOS |
| 動作真空度 | <10^-6mbar (UHVバージョン使用可能) |
| Noスリット技術 | 使用可能 |
| 入射スリット | オプション |
| グレーティング | モーター駆動、クロースドループ |
| フィルター | オプション |
| インターフェース | USB or イーサネット |
| ソフトウエア | Windows UI / Labview, VB, C, C++ SDK |
| カスタム | 可能 |
No-slitデザイン
HP分光計独自の分光計設計は、直接光源イメージングを採用しています。そのため、狭い入射スリットを必要とせず、光収集が最大化されます。従来の分光計アーキテクチャと比較して、分光計検出器に到達する光量は20倍に増加します。また、このアーキテクチャは日常的な運用における堅牢性を大幅に向上させます。
測定例
easyLIGHT XUVを用いてLiFフィルター（ピンク）、LiFおよびライマンα線フィルター（青、それぞれ10倍）を装着して測定したXeガスパフターゲットからのプラズマスペクトル。Acktar Magic Black™コーティングを施したサンプルからのVUV放射の反射率を角度分解測定することで、コーティングのBRDF（反射率分布関数）が得られました。
[参考文献]
M. Strumik et al, Reflectance properties of the Acktar Magic Black™ coating for the radiation near the Lyman-α line of hydrogen: measurements and phenomenological model of the BRDF
J. Astron. Telesc. Instrum. Syst. 10 (2024) 018004
easyLIGHT XUVを用いたDELTA短パルス施設からの超短シンクロトロン放射パルスの特性評価。800 nmシードレーザーのスペクトル位相の影響が、周波数チャープなし（左図）と周波数チャープあり（右図）の第6高調波で観測されている。強くチャープされたレーザーパルスをシードすると、R56の関数として放物線状の特性が得られ、シミュレーション結果と一致する。
[参考文献]
A. Radha Krishnan et al, Spectro-temporal properties of coherently emitted ultrashort radiation pulses at DELTA
40th International Free Electron Laser Conference, Trieste (2022)
CO2ベースの低温プラズマから放出される放射の測定。キセノンガスパフターゲットをベースとしたレーザー生成プラズマEUV光源を用いて、CO2ガスを照射・電離した。VUV領域では、C I、C II、O Iに対応する複数の輝線と、CO分子バンドが観測されている。
[参考文献]
A. Bartnik et al, Spectral investigations of low-temperature plasma induced in CO2 gas by nanosecond pulses of extreme ultraviolet (EUV)
Plasma Sources Sci. Technol. 30 (2021) 115008
