X線分光器 hardLIGHT TXS

TXS分光計は、HHGビームライン、X線自由電子レーザー、卓上X線レーザーにおいて、高精度な光子診断を可能にします。2 keV～4 keVのエネルギーをシングルショットで測定できます。

高効率後方散乱を用いたvon Hamos方式により、X線スペクトルはオンラインビーム特性評価のために記録されます。透過ビームは90%以上の透過率を維持したまま、実験に使用できます。

後方散乱プローブを材料サンプルに交換するだけで、hardLIGHT TXSはX線発光分光法（XES）に使用できます。この軟X線領域は、多くの材料の状態を高感度に分析することを可能にします。例えば、2keVでの硫黄の分析は、バッテリー研究にとって重要な知見をもたらします。

TXS分光計のカスタマイズ版もご用意しております。お客様のアプリケーションについてご相談いただく場合は、お気軽にお問い合わせください。